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一、用途

恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于儀器儀表材料、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、化工涂料等各種電子及其相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。本設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高低溫環(huán)境下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品的改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用.

 

二、恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60068-2-2.1974高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法。

GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn): 試驗(yàn)方法  試驗(yàn)A：低溫。

GB/T 2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn): 試驗(yàn)方法  試驗(yàn)B：高溫。

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)Cab 恒定濕熱試驗(yàn)。

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h+12h循環(huán)）。

GB 10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。